專注福祿克測試儀銷售與技術(shù)

福祿克測試出現(xiàn)負(fù)損耗（DSX5000,DTX-1800）

發(fā)布日期：2016年03月03日   瀏覽次數(shù)：19次   編輯：深圳連訊

福祿克為什么測試結(jié)果會(huì)出現(xiàn)“負(fù)損耗”？常見型號(hào)有，DSX-5000加上CFP-100-Q，DTX-1800加上單模模塊DTX-SFM2或者多模模塊DTX-MFM2。

負(fù)損耗表示光纖鏈路不光沒有損耗，反而還有“增益”—當(dāng)然這是不真實(shí)的。主要原因來自于以下各種偏差和誤差。

其一，在光源端口，光能量不都是 100%射入測試跳線中的，其“耦合效率”的高低與端口結(jié)構(gòu)的幾何尺寸和幾何偏差有關(guān)，且與測試跳線插頭的幾何尺寸的“偏差”也有關(guān)。所以，歸零以后一般不允許再插拔測試跳線，否則會(huì)破壞端口耦合效率，如若不小心拔出了跳線，則必須重新歸零，只有這樣才能避免增大測試誤差。對短鏈路而言，歸零后插拔端口跳線會(huì)令損耗增加或“減少”—這導(dǎo)致出現(xiàn)測試結(jié)果為“負(fù)損耗”的現(xiàn)象。

其二，如果歸零時(shí)跳線端面附著有纖維屑或灰塵，但歸零后脫落，也可能會(huì)出現(xiàn)“負(fù)損耗”。

第三，開機(jī)未預(yù)熱就歸零，因儀器工作參數(shù)漂移而出現(xiàn)“負(fù)損耗”。一般建議預(yù)熱5 分鐘，溫差較大時(shí)應(yīng)預(yù)熱 10 分鐘。

第四，歸零時(shí)跳線插拔不到位(損耗偏大)。

第五，如果歸零用的耦合器本身偏差較大(比如軸向?qū)?zhǔn)偏差較大)，則歸零后測試短鏈路時(shí)也可能會(huì)出現(xiàn)負(fù)損耗。

第六，劣質(zhì)測試跳線或跳線本身不穩(wěn)定。

 

本文關(guān)鍵字: CFP-100-Q, DSX-5000, dtx1800ms, Fluke, 福祿克, 福祿克測試, 負(fù)損耗
原創(chuàng)標(biāo)題：福祿克測試出現(xiàn)負(fù)損耗（DSX5000,DTX-1800）
原文鏈接：http://qqmmqq.cn/archives/negative-loss.html
版權(quán)說明：本文為深圳市連訊達(dá)電子技術(shù)開發(fā)有限公司官網(wǎng)（qqmmqq.cn）版權(quán)所有。如果您需要轉(zhuǎn)載，請注明出處并保留原文鏈接！如為轉(zhuǎn)載文章會(huì)注明文章出處，轉(zhuǎn)載文章不代表本公司觀點(diǎn)。對于某些同行無恥惡意抄襲剽竊連訊客戶案例的違法行為，連訊將追究法律責(zé)任！
詳情請致電連訊公司：0755-83999818