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福祿克測試時光纖損耗過大的因素-熔接篇

發(fā)布日期:2013年11月06日   瀏覽次數(shù):37次   編輯:深圳連訊

通過深圳連訊達測試工程部發(fā)來的反饋,我們在用福祿克DTX-1800MS或者OptiFiber PRO進行光纖測試的時候,最大的問題往往是光纖衰減通不過,那影響光纖衰減通不過的主要問題有哪些呢?讓我們一起來看看深圳連訊達總結(jié)的經(jīng)驗。

1.影響光纖熔接損耗的主要因素:

影響光纖熔接損耗的因素較多,大體可分為光纖本征因素和非本征因素兩類。1.光纖本征因素是指光纖自身因素,主要有四點。

(1)光纖模場直徑不一致;


(2)兩根光纖芯徑失配;


(3)纖芯截面不圓;


(4)纖芯與包層同心度不佳。


其中光纖模場直徑不一致影響最大,按CCITT(國際電報電話咨詢委員會)建議,單模光纖的容限標準如下:

模場直徑:(9~10μm)±10%,即容限約±1μm;


包層直徑:125±3μm;


模場同心度誤差≤6%,包層不圓度≤2%。

 


2.影響光纖接續(xù)損耗的非本征因素即接續(xù)技術(shù)。

(1)軸心錯位:單模光纖纖芯很細,兩根對接光纖軸心錯位會影響接續(xù)損耗。當錯位1.2μm時,接續(xù)損耗達0.5dB。


(2)軸心傾斜:當光纖斷面傾斜1°時,約產(chǎn)生0.6dB的接續(xù)損耗,如果要求接續(xù)損耗≤0.1dB,則單模光纖的傾角應為≤0.3°。


(3)端面分離:活動連接器的連接不好,很容易產(chǎn)生端面分離,造成連接損耗較大。當熔接機放電電壓較低時,也容易產(chǎn)生端面分離,此情況一般在有拉力測試功能的熔接機中可以發(fā)現(xiàn)。


(4)端面質(zhì)量:光纖端面的平整度差時也會產(chǎn)生損耗,甚至氣泡。


(5)接續(xù)點附近光纖物理變形:光纜在架設(shè)過程中的拉伸變形,接續(xù)盒中夾固光纜壓力太大等,都會對接續(xù)損耗有影響,甚至熔接幾次都不能改善。

3.其他因素的影響。


接續(xù)人員操作水平、操作步驟、盤纖工藝水平、熔接機中電極清潔程度、熔接參數(shù)設(shè)置、工作環(huán)境清潔程度等均會影響到熔接損耗的值。

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原創(chuàng)標題:福祿克測試時光纖損耗過大的因素-熔接篇
原文鏈接:http://qqmmqq.cn/archives/fiber-loss-welding.html
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