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元件級(jí)測(cè)試/鏈路級(jí)測(cè)試/應(yīng)用測(cè)試的關(guān)系

發(fā)布日期：2016年06月20日   瀏覽次數(shù)：13次   編輯：深圳連訊

元器件測(cè)試—生產(chǎn)/選型/進(jìn)場(chǎng)測(cè)試

如TIA568C.2等定義

線纜(Cable)

模塊(Jack)

跳線(Patch Cable)

鏈路測(cè)試—安裝驗(yàn)收/開(kāi)通測(cè)試

如GB50312-2007等定義

永久鏈路(Permanent Link)

通道(Channel)

應(yīng)用測(cè)試—驗(yàn)證應(yīng)用/升級(jí)預(yù)測(cè)

如IEEE802.3等定義

10/100Base-T、ATM155

1000Base-T、

1000Base-LX1000Base-Tx、

1G Cell10G Base-T、

10G Base-F……

區(qū)別圖如下：

元器件測(cè)試 通道測(cè)試鏈路通測(cè)試 應(yīng)用測(cè)試的區(qū)別


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原創(chuàng)標(biāo)題：元件級(jí)測(cè)試/鏈路級(jí)測(cè)試/應(yīng)用測(cè)試的關(guān)系
原文鏈接：http://qqmmqq.cn/archives/different-fluke-test.html
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