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福祿克FLUKE光纖測(cè)試儀跳線設(shè)置基準(zhǔn)（兩跳線法）

發(fā)布日期：2020年08月11日   瀏覽次數(shù)：5次   編輯：深圳連訊

在上期的【系列技術(shù)課程】中，我們?yōu)榇蠹医榻B了如何使用“一跳線法”進(jìn)行跳線基準(zhǔn)設(shè)置，還沒(méi)有閱讀過(guò)的福粉們，點(diǎn)擊跳線設(shè)置基準(zhǔn)（一跳線法）迅速“補(bǔ)補(bǔ)課”。

 

本期我們先回顧一下一級(jí)測(cè)試的概念，正如大家所知，一級(jí)測(cè)試是最普遍使用的測(cè)試方式，就是用一個(gè)光源和一個(gè)光功率計(jì)，在光纖的一端接上光源，并在光纖的另一端接上光功率計(jì)，由于這根光纖是有損耗的，因而可以通過(guò)這種方式測(cè)到光功率的衰減情況。

 

在實(shí)際測(cè)試的時(shí)候，我們一般不能直接把被測(cè)光纖插在光源和光功率計(jì)的端口上，特別是不能直接插在光源接口上，這是為什么呢？因?yàn)楣庠词且粋€(gè)精度很高的設(shè)備，接插拔時(shí)容易引起誤差，且從壽命角度，插拔次數(shù)也是有限的，考慮到更換的成本較高，所以實(shí)際進(jìn)行測(cè)試時(shí)候都要使用測(cè)試跳線，也就是把測(cè)試跳線的一頭插在光源和光功率計(jì)上，跳線的另一頭插在被測(cè)的光纖鏈路上，這樣被測(cè)光纖鏈路在測(cè)試的時(shí)候真正被磨損的是我們用來(lái)的測(cè)試用的測(cè)試跳線，當(dāng)然測(cè)試跳線也會(huì)磨損，但相對(duì)于光源光功率計(jì)組件的成本要低很多。所以，在進(jìn)行光纖損耗測(cè)試時(shí)，一定要使用測(cè)試跳線。

 

那么我們來(lái)看一下“兩跳線法”測(cè)試是如何進(jìn)行的。

 

 

第一步，當(dāng)然是設(shè)置參考值。在測(cè)試之前我們先把跳線影響歸零，“兩跳線法”之所以叫做兩跳線，就是因?yàn)樵谠O(shè)置參考時(shí)，使用了兩根光跳線。如上圖所示，我們?cè)?span id="ba4bhif" class='wp_keywordlink'>校準(zhǔn)測(cè)試中歸零了測(cè)試跳線1與測(cè)試跳線2，中間通過(guò)連接器3進(jìn)行跳線連接，因此連接器3也在基準(zhǔn)設(shè)置范圍內(nèi)，予以扣除了。

 

第二步，進(jìn)行測(cè)試，接入被測(cè)鏈路，此時(shí)我們可以看到測(cè)得的光功率值是被測(cè)鏈路損耗和連接器2的總損耗。也就是說(shuō)當(dāng)只要求測(cè)試一端連接器加一段光纖鏈路的損耗時(shí)可使用“兩跳線法”。另外要格外注意的是，測(cè)試結(jié)果不包括連接器1的損耗，如果連接器1和設(shè)置參考時(shí)的連接器3的損耗相差很大，這可能導(dǎo)致被測(cè)鏈路出現(xiàn)負(fù)損耗。所以工程驗(yàn)收測(cè)試并不推薦使用“兩跳線法”。

 

本文關(guān)鍵字: Fluke, 兩跳線法, 光纖, 福祿克, 設(shè)置基準(zhǔn)
原創(chuàng)標(biāo)題：福祿克FLUKE光纖測(cè)試儀跳線設(shè)置基準(zhǔn)（兩跳線法）
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