關(guān)于內(nèi)阻測(cè)試的幾個(gè)常見問題
內(nèi)阻測(cè)試不準(zhǔn)，因?yàn)橥还?jié)電池每次測(cè)都不一樣
分辨率很重要，因?yàn)殡姵氐膬?nèi)阻很小，但不會(huì)快速變化
?2V電芯的典型內(nèi)阻為0.3mΩ，需要微歐級(jí)分辨率
消除接觸阻抗很重要
?不同的操作力度所造成的接觸阻抗差異，可能帶來mΩ的誤差
?福祿克的Kelvin四線制測(cè)試法和同軸彈簧表針能有效消除接觸阻抗
測(cè)試位置很重要——表筆接觸極柱
?測(cè)試位置不統(tǒng)一可能引入誤差
?若接觸螺栓，約增加內(nèi)阻mΩ
?若接觸連接片，約增加內(nèi)阻mΩ
紋波抑制很重要
?一節(jié)12V的電池上可能出現(xiàn)20kHz，100mV的交流電壓紋波
本文關(guān)鍵字: Fluke, 內(nèi)阻測(cè)試, 電池分析儀
原創(chuàng)標(biāo)題：關(guān)于內(nèi)阻測(cè)試的幾個(gè)常見問題
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