福祿克DTX-1800-MS光纖衰減值現(xiàn)場測試(一級(jí)測試 Tier 1)
福祿克DTX-1800-MS光纖衰減值現(xiàn)場測試(一級(jí)測試 Tier 1)
衰減值是光纖鏈路現(xiàn)場測試的最基本參數(shù),光纖本身因?yàn)樯⑸?、吸收、彎曲過度和熔接等均可能造成光能量的衰耗,光纖的機(jī)械連接也會(huì)直接導(dǎo)致光信號(hào)能量的衰減。測試衰減值的方法很簡單,它被稱作OLTS法(Optical Loss Test Sets)。就是用光源先向光功率計(jì)發(fā)送光能量,光功率計(jì)記錄收到的初始能量(P0),然后移開光功率計(jì),將被測光鏈路“嵌入“到光源和光功率計(jì)之中,光源從一端向被測光纖中發(fā)送光能量,光功率計(jì)在另一端接收通過光纖后的光能量(Pi),如果光能量是以分貝(dB)為單位的,那么這兩個(gè)光能量的差值就是被測光纖鏈路的衰減值(P0 - Pi)。
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本文關(guān)鍵字: DTX-1800-MS
原創(chuàng)標(biāo)題:福祿克DTX-1800-MS光纖衰減值現(xiàn)場測試(一級(jí)測試 Tier 1)
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