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如何通過環(huán)形通量提高多模測試準(zhǔn)確性

發(fā)布日期：2013年06月07日   瀏覽次數(shù)：31次   編輯：深圳連訊

如何通過環(huán)型通量提高多模測試準(zhǔn)確性 ?文章來自福祿克網(wǎng)絡(luò)

Anyone who’s ever tested a multimode fiber optic link with light sources from different equipment?vendors will know that the loss measurement can vary by as much as 50 percent.若未進(jìn)行適當(dāng)控制，則多模光源會(huì)以不同的方式將光注入多模光纖。?即使采用同一制造商生產(chǎn)的光源，但在不同的發(fā)射條件下也會(huì)產(chǎn)生不同的鏈路損耗測量結(jié)果，最終出現(xiàn)不同的 — 并且通常令人困惑的 — 測試結(jié)果。

Overfilling tends to produce link-loss measurements that are inappropriately high and under filling tends to generate loss measurements that are optimistic in regards to the loss that will occur in the cabling once it is operational.?不同類型的光源會(huì)有不同的發(fā)射條件。例如：發(fā)光二極管 (LED) 會(huì)使多模光纖過多填充模式組，而激光又未使光纖填充足夠的模式組。

這些有缺陷的結(jié)果最終會(huì)影響布線基礎(chǔ)設(shè)施的性能，并且會(huì)造成數(shù)據(jù)中心和其它依靠光纖布線連接組件的環(huán)境方面的嚴(yán)重問題。

當(dāng)考慮到網(wǎng)絡(luò)技術(shù)已經(jīng)進(jìn)步并且損耗預(yù)算已經(jīng)減少時(shí)，這就有些雪上加霜了。為了滿足緊縮的損耗預(yù)算，必須最大限度地減少測試不確定性。因此，新型高性能寬帶業(yè)務(wù)應(yīng)用程序就成了現(xiàn)場測試儀器進(jìn)行更準(zhǔn)確和可重復(fù)進(jìn)行多模衰減測量所需的動(dòng)力。

行業(yè)專家認(rèn)為有必要減小發(fā)射條件偏差，這在測試 1 GB 或更高多模光纖時(shí)顯得尤為必要。

那么，解決方案是什么呢？答案是利用一種稱為環(huán)形通量 (EF) 的標(biāo)準(zhǔn)，這是一種對(duì)以往方法所作的重大改進(jìn)。環(huán)形通量 (EF) 是一種分析多模光源（例如： LED 或激光）啟動(dòng)條件的方法。它是在光源將光照射入多模光纖時(shí)光纖芯徑內(nèi)的功率百分比，并且它是通過近場測量來自連接測試儀器的參考等級(jí)測試線端的光確定的。

EF 標(biāo)準(zhǔn)可以將損耗測量的偏差減少至 +/- 10%。與以前允許高達(dá)40% 偏差的標(biāo)準(zhǔn)相比，EF 標(biāo)準(zhǔn)在多模測試的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性方面有了大幅改善。因此，需要進(jìn)行線纜認(rèn)證以及批準(zhǔn)布線保證的相關(guān)組織和人員已經(jīng)開始要求遵守這一新標(biāo)準(zhǔn)。

目前有可用于現(xiàn)場測試的環(huán)形通量 (EF) 解決方案。它們被稱作“發(fā)射控制器”，是與模式調(diào)節(jié)器一起安裝的特制測試級(jí)參考線。發(fā)射控制器的工作原理是在 EF 技術(shù)指標(biāo)范圍內(nèi)限制測試線發(fā)射的模式組數(shù)量。這樣可確保根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)，結(jié)果測量是精確且可重復(fù)的。

是否達(dá)到環(huán)形通量 (EF) 標(biāo)準(zhǔn)由測試儀器供應(yīng)商確認(rèn)，它們使用專門的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備對(duì)多模光纖內(nèi)包含的不同模式之間的功率分布直接進(jìn)行測量。

測量包括使用視頻和處理方法，分析測試線端的近場分布。圖像會(huì)轉(zhuǎn)變?yōu)閿?shù)據(jù)和圖解說明?？梢栽谶x定的 EF 限值范圍內(nèi)繪圖，以檢查其是否合規(guī)。

The Telecommunications Industry Association (TIA) and?International Electrotechnical Commission (IEC) standards bodies both have documents that describe the requirements for EF.

EF 在將多模鏈路損耗測量縮小至 10% 偏差目標(biāo)方面是一個(gè)重大進(jìn)步。它將改善諸如模態(tài)功率分布和耦合功率之類的舊方法。由于符合 EF 標(biāo)準(zhǔn)的測試儀器會(huì)為認(rèn)證測試提供最可靠的結(jié)果，因此網(wǎng)絡(luò)工程師和設(shè)計(jì)師需要更新他們的測試技術(shù)指標(biāo)，以要求使用符合 EF 標(biāo)準(zhǔn)的光源。

值得高興的是Fluke Networks ?今年已經(jīng)推出Fluke DTX–EFM2 環(huán)型通量多模光纖模塊 ?配合DTX-1800我們就可以實(shí)現(xiàn)測試環(huán)境了。

 

相關(guān)閱讀光纖環(huán)型通量 (EF) 測量白皮書：http://qqmmqq.cn/archives/ef.html

本文關(guān)鍵字: dtx-1800, DTX-EFM2, Fluke Networks, 萬兆光纖, 光纖損耗, 多模光纖, 環(huán)形通量, 福祿克, 福祿克網(wǎng)絡(luò)
原創(chuàng)標(biāo)題：如何通過環(huán)形通量提高多模測試準(zhǔn)確性
原文鏈接：http://qqmmqq.cn/archives/ef-2.html
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