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什么是環(huán)形通量EF?

發(fā)布日期:2020年08月01日   瀏覽次數(shù):6次   編輯:深圳連訊

大家好,本期我們和大家一起討論多模光纖測試中一個特殊的要求,環(huán)通量EF。

 

 

在上圖中,自上而下,分別是LED光源、VCSEL垂直腔表面發(fā)射激光以及激光光源。我們理想的光源當(dāng)然是平行光入射,沒有入射角的,但除了激光光源外,很難實現(xiàn)沒有入射角的投射方式,然而事實上激光光源也是有入射角,只是非常小,可以忽略。

 

我們來看LED入射方式,它其實是通過滿注入的方式投射到光纖,我們知道多模光纖孔徑是62.5微米或者50微米,當(dāng)LED投射到光纖端面,如果把投射面看作一個射擊靶盤,那么滿注入相當(dāng)于光源投射在直徑為100微米的靶盤內(nèi),而VCSEL光源相當(dāng)于投射的直徑為35微米的靶盤內(nèi),激光光源投射的是直徑為10微米的靶盤內(nèi)。

 

 

也就是說,不同光源會導(dǎo)致不同靶盤面積,這個我們可以把它看作入射光的通過量。日常使用時,我們連接光纖時,由于對位不齊,很容易造成極小偏芯的情況,這使得采用LED光源做測試時,會帶來很大的不確定度,嚴(yán)重的可以導(dǎo)致50%以上不確定度,因此國際標(biāo)準(zhǔn)ISO11801和TIA568.3-D以及國標(biāo)GB50312中都增加了對測試儀表光源發(fā)光的EF環(huán)通量的要求,即將靶盤有效區(qū)域控制在一定區(qū)域內(nèi),一般控制在直徑45微米以內(nèi)的區(qū)域內(nèi),這樣測試的不確定性能夠降至10%以內(nèi)

 

 

在上圖中我們可以看到,要實現(xiàn)穩(wěn)定的EF光環(huán)通量,不僅需要支持EF-LED的優(yōu)化光源,也需要加入支持EF環(huán)通量的光纖測試跳線,我們一般把它稱作EF餅干跳線,通過EF調(diào)節(jié)后,使得光纖輸出末端的光能量集中在半徑是22μm~25μm的靶心區(qū)域。

 


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