多模光纖光源的環(huán)型通量 (EF) 發(fā)射一直受到標準委員會、設(shè)備供應商和用戶的歡迎。TIA 工作小組 TR42.11 啟動了大型循環(huán)法測試，這吸引了許多有興趣的參與者以及許多 IEC 和 ISO 小組委員會成員。啟動的此次循環(huán)法測試旨在檢查用于 EF 測量設(shè)備的當前狀態(tài)。有人懷疑由于 EF 是受限發(fā)射，因此 EF 設(shè)備可能不具有可降低測量不確定性的精度。數(shù)年前在 IEC SC86B 標準范圍內(nèi)進行了類似測試，數(shù)據(jù)顯示被測的某些模發(fā)射設(shè)備超出了 EF 模板。如果測試時對設(shè)備進行了正確校準，就不會出現(xiàn)這個問題。新循環(huán)法測試的目的在于測量 EF 測量設(shè)備的變化性，并幫助進行此類型測試的人員樹立信心。循環(huán)法測試為期 19 個月。測試樣本經(jīng)過了代表北美、歐洲和日本公司的 14 名參與者的評定。研究中使用過了五種不同類型的近場發(fā)射測量設(shè)備。循環(huán)法使用的測試樣本是兩個 LED 雙波長光源。由于循環(huán)法的目的是測量 EF 設(shè)備之間的差異，因此這些測試樣本本身并不代表經(jīng)過校準符合 EF 的發(fā)射。
測試協(xié)議
測試期間使用的 LED 光源是包含雙波長 850/1300 nm“組合器”的生產(chǎn)單元。兩種光源均可配合 50 ?m 或 62.5 ?m 光纖測試線使用。光纖測試線長度為 1 米，被永久固定在光源的隔板上。用于 50 μm 和用于 62.5 μm 的儀器如測試線般安裝在平臺上。測試期間只可操作一小段測試線。測試線上安裝了用作調(diào)諧模式過濾器的多個“空轉(zhuǎn)”。對模式過濾器進行了“調(diào)諧”，以將 850 nm 設(shè)置在 EF 模板的目標上。1300 nm 響應保持在 EF 模板內(nèi)，但與其目標之間存在偏差。EF 設(shè)備帶有獨立的用于 850 nm 和 1300 nm 的成像系統(tǒng)時會出現(xiàn)此情況。參與者收集了不同 EF 案例的數(shù)據(jù)：850/1300 nm 用于 50 ?m 布線，850/1300 nm 用于 62.5 ?m 布線。為了進行簡化，并且由于對 50 ?m布線數(shù)據(jù)的更多關(guān)注，此份文件只顯示了該數(shù)據(jù)。要求各參與者進行三次測量，但在最終分析時使用的是平均值。為便于控制，將光源返還至名為“參照測試臺”的原始地點，在此對其進行重新檢查、更換電池等操作。在將光源交付給參與者之前收集數(shù)據(jù)，參與者完成測量并返還光源。北美和歐洲各設(shè)有一個EF 參照測試臺。在各參照測試臺處進行的測量被用于建立基線。
目的
此次循環(huán)法測試的目標包含多個部分如前所述，主要原因是評估 EF 測試設(shè)備之間的差異。第二目標是發(fā)現(xiàn)測量的異常和異常值，以確定根源。第三目標是獲得 EF 測試的信心，因此將測試儀器用于現(xiàn)場時，我們可以感受到對網(wǎng)絡(luò)衰減測量的信心。第四目標是進行所有參與者測量數(shù)據(jù)平均值的不確定性分析，并為測量指定設(shè)置不確定性。
數(shù)據(jù)解釋
為了降低不明確性并排除循環(huán)法測試的樣本變化性，我們對測試結(jié)果進行了標準化。換言之，參與者的測試是相對于將樣本交付給參與者之前進行的基線測試進行的?；€測試用于以 EF 模板量級為界限建立新的 EF 目標。100% 和 -100% 界限表示 EF 上限和下限之間的范圍，不是真實值。
EFLΔ 和 EFUΔ 表示相對于 EF 目標（現(xiàn)已被基線測試代替）的 EF 模板量級?；€ #5 是向參與者發(fā)送樣本之前進行的測試。測試 #5 是實際的參與者測試。后測試 #5 是參與者 #5 返還樣本之后進行的測試。在此示例中，參與者 #5 保持在 EF 模板內(nèi)。更多詳情參見圖 1。
圖 1 – 對比前后基線測試的測試結(jié)果
長期偏移
在循環(huán)法測試之初觀察到了樣本的偏移現(xiàn)象。由于在測試方法中采用了標準化測量，因偏移可能已影響到結(jié)果，因此未被包含在數(shù)據(jù)中。獨立測試表明測試線使用的 3 mm 護套出現(xiàn)收縮。經(jīng)過數(shù)周，這種收縮在溫度升高的恒溫槽中重現(xiàn)。收縮使得模式過濾量多于測試樣本首次設(shè)置的過濾量。圖 2 顯示了 9 個月的期限內(nèi) EF 響應的變化。原始測試樣本被設(shè)置在位于兩個虛線中間的 EF 目標上。如果不熟悉 EF 模板，圖 2 只顯示了 20 ?m 和 22 ?m 處的模板。此區(qū)域是對使用測試設(shè)備進行的損耗測量影響最大的區(qū)域。
圖 2 – 9 個月的期限內(nèi)的樣本偏移
850 nm 50 μm 測試結(jié)果為了簡明起見，此份文件中并未顯示所有數(shù)據(jù)。由于 50 ?m 布線中的 850 nm 處是最重要的區(qū)域，圖 3 顯示了此區(qū)域的所有數(shù)據(jù)。所有 14測試都被合成在一個圖片中，以顯示平均值以及基于結(jié)果分布的一測回標準偏差帶。一測回標準偏差表示，所有 EF 測量值在模板內(nèi)的置信系數(shù)均為 75%。在循環(huán)法測試期間，所有參與者均在 EF 模板內(nèi)。但是由于參與者之間的分布不同，因此標準偏差提高。在圖 4 中，顯示了平均值和二測回標準偏差。二測回標準偏差表示，EF 結(jié)果保持在標準偏差限值內(nèi)的置信系數(shù)為 95%。注意在 20 ?m 控制點上，二測回標準偏差虛線稍稍超出了 EF 模板。這個數(shù)量表示，在布線衰減測量期間存在 1.8% 的不確定性。
圖 3 – 測試的平均值和一測回標準偏差
圖 4 – 測試的平均值和二測回標準偏差
摘要14 名參與者使用不同的 EF 測量設(shè)備對兩個 LED 光源進行了測試。各參與者均在初始基線測試的短時間內(nèi)完成了測試。通過將基線設(shè)置為零對所有測試進行了標準化。在兩個地點使用了參照測試臺。觀察到較慢的 EF 響應偏移，這歸因于溫度對 3 mm 護套的影響。所有參與者均在 EF 模板內(nèi)。平均 EF 結(jié)果在 EF 限值內(nèi)，但由于使用了兩個西格瑪值，測試分布未被嚴格分組。使用平均 EF 值和一測回標準偏差（75% 的置信系數(shù)），所有參與者均在 EF 模板內(nèi)。對于二測回標準偏差（95% 的置信系數(shù)），在一個控制點處存在另外 1.8% 的不確定性（20 ?m 用于 850 nm/50 μm）。
結(jié)論實際應用中的 EF 測量可以具有一定的合理不確定性。并且即便使用二測回標準偏差范圍和稍稍超出模板的結(jié)果，EF 也比模功率分布 (MPD)等原來的標準好很多。但是，人們肯定認為不確定性主要取決于模板目標是否符合 EF 標準。這使得他們會更加注重 850 nm 下 50 ?m 的布線方法。但此時，EF 標準不區(qū)分波長和光纖尺寸的規(guī)范和信息要求。EF 結(jié)果分布可能與校準差異、用戶技巧和不同設(shè)備類型、IEC 61280-1-4 不合規(guī)性及其他因素相關(guān)。通過更好的校準和跟蹤改善系統(tǒng)不確定性將使標準偏差得到改善（降低分布）。此時使用精準工件校準的 EF 設(shè)備無需依賴對國家標準實驗室的追溯。有關(guān)符合環(huán)型通量解決方案的更多信息 — 請訪問?http://www.faxy-tech.com/Products/DTX-EFM2.html
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FLUKE DTX-1800配合福祿克DTX-EFM2和DTX-SFM2系列光纖模塊如何更好的設(shè)置測試基準？今天連訊達的工程師們用經(jīng)驗告訴你們該怎么做。眾所周知，我們在做福祿克DTX-XFM2光纖模塊進行光纖鏈路的測試之前，需要對光纖的尾纖做一個基準測試。但是在做基準值設(shè)置的時候，經(jīng)常會碰到提示“檢查光纖的連接。測得的電平超出設(shè)置基準的預期量程”的提示，那么這是什么原因呢？連訊達的工程師們發(fā)現(xiàn)在現(xiàn)實情境下，光纖模塊自身誤差較大、測試跳線質(zhì)量不良、跳線端口損耗過大、接口灰塵侵蝕等等原因都會導致設(shè)置基準失敗。但是判別DTX-XFM模塊最終設(shè)置基準是否可用或者基準設(shè)置的好壞有一個明確的數(shù)值定義。那么如何判別，請按照下列步驟實施，繼續(xù)看下圖：
第一步：福祿克DTX-1800或者其他DTX系列利用SC-SC的耦合器把光纖跳線端接起來，DTX1800主機模塊的OUT端口對應著遠端設(shè)備模塊的IN端口;同樣的道理，遠端模塊的OUT端口對應著主機模塊的IN端口。
第二步：將儀器面板旋鈕調(diào)制Special Function檔位。點擊設(shè)置基準。
第三步：如果一切正常那么設(shè)置基準會顯示完成。
第四步：一旦出現(xiàn)測試基準不合格或者指標不對，設(shè)備本身會提出錯誤指示。詳細的量程范圍如下：當這個測試值處于以下這個量程范圍之內(nèi)，變會出現(xiàn)以下的警告提示：Smart Remote Mode????????????DTX-MFM: -17.5 dBm to -27.0 dBm????????????DTX-GFM: -4.5 dBm to -10.0 dBm????????????DTX-SFM: -4.5 dBm to -10.0 dBm如圖：
PS：這個時候需要對設(shè)備本身進行檢測。判斷模塊的好壞，有個最簡單的辦法就是，利用獨立的一根光纖，在主機端由OUT引出，至IN插入，測試獨立的模塊的性能。
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福祿克光纜模塊的優(yōu)點有：
- 隨時可用的背插式光纜模塊
- 12 秒鐘的自動測試比現(xiàn)有儀器快5 倍
- 通過LinkWare 軟件提供一級光纜認證測試報告
- 內(nèi)置的可視故障定位器（VFL）可查找光纜，驗證連通性和極性，并能發(fā)現(xiàn)斷點
- 通過對講機、查找光纜、監(jiān)測、雙向測試和單光纜測試等功能提高測試速度
- 可作為福祿克網(wǎng)絡(luò)公司的OptiFiber 光纜認證（OTDR）分析儀的智能遠端
眾所周知，福祿克DTX1800標配光纖接頭是SC。那如何才能對不同接頭進行測試呢？例如：我需要測試LC接頭的萬兆光纖。
福祿克DTX1800 的DTX-EFM2標配連接頭為SC接頭。
如果我們需要測試LC的光纖。購買福祿克萬兆光纖跳線型號為：NFK2-DPLX-LC 50um
細心的朋友應該發(fā)現(xiàn)，NFK2-DPLX-LC的原裝光纖跳線的接頭類型是：2對跳線。一對中一條是：SC-LC，另一條是LC-LC。這意味著什么呢？我們DTX-EFM2的標準連接頭SC頭已經(jīng)不能完全適用了。必須把DTX1800光纖模塊上的一個連接頭換成LC頭，換句話說：DTX-EFM2的模塊必須有一個是SC連接器一個是LC連接器。而標準配置是2個SC連接器。OUTPUT輸出端口是固定SC頭，不能更換，那就只能更換INPUT端口換成LC接頭。
上圖為福祿克DTX系列光纖模塊的LC轉(zhuǎn)換適配器
在福祿克DTX-1800主機的光纖模塊上更換LC適配器，就形成以下連接模型，我們就可以測試我現(xiàn)場工程要測試的LC連接接頭的光纖了。
方案總結(jié)：如果我們需要測試不同光纖類型，購買了福祿克原裝跳線的同時，不要忘記購買轉(zhuǎn)換適配器。具體請聯(lián)系連訊達公司。0755-83999818
本文謝絕轉(zhuǎn)載。（包括同行企業(yè)網(wǎng)站和分類信息網(wǎng)站，請某些同行自重?。?/p> ]]>
現(xiàn)在面臨的問題需要對光纖跳線和光纜進行測試，需要全套光纖測試方案。特委派連訊達公司對其進行測試培訓。并且購買了全套福祿克設(shè)備，包括DTX-1800，最新的DTX-EFM2多模光纖模塊和DTX-SFM2單模光纖模塊。
福祿克DTX1800 DTX-EFM2 DTX-SFM2客戶培訓場景
福祿克DTX1800 DTX-EFM2 DTX-SFM2客戶培訓PPT
通過售后培訓服務，使其對光纖測試有了全面的了解。
品質(zhì)部吳主管說：“連訊達是我們長期的合作伙伴，此次為我們提供了光纖跳線解決方案以及光纜的測試解決方案，通過與連訊達的合作我們對我們的光纖線材可以進行嚴格的品質(zhì)測試把控，確保用戶拿的光纖都是高性能的。”
線纜廠品保部-吳主管和連訊達工程師合影
]]>Anyone who’s ever tested a multimode fiber optic link with light sources from different equipment?vendors will know that the loss measurement can vary by as much as 50 percent.若未進行適當控制，則多模光源會以不同的方式將光注入多模光纖。?即使采用同一制造商生產(chǎn)的光源，但在不同的發(fā)射條件下也會產(chǎn)生不同的鏈路損耗測量結(jié)果，最終出現(xiàn)不同的 — 并且通常令人困惑的 — 測試結(jié)果。
Overfilling tends to produce link-loss measurements that are inappropriately high and under filling tends to generate loss measurements that are optimistic in regards to the loss that will occur in the cabling once it is operational.?不同類型的光源會有不同的發(fā)射條件。例如：發(fā)光二極管 (LED) 會使多模光纖過多填充模式組，而激光又未使光纖填充足夠的模式組。
這些有缺陷的結(jié)果最終會影響布線基礎(chǔ)設(shè)施的性能，并且會造成數(shù)據(jù)中心和其它依靠光纖布線連接組件的環(huán)境方面的嚴重問題。
當考慮到網(wǎng)絡(luò)技術(shù)已經(jīng)進步并且損耗預算已經(jīng)減少時，這就有些雪上加霜了。為了滿足緊縮的損耗預算，必須最大限度地減少測試不確定性。因此，新型高性能寬帶業(yè)務應用程序就成了現(xiàn)場測試儀器進行更準確和可重復進行多模衰減測量所需的動力。
行業(yè)專家認為有必要減小發(fā)射條件偏差，這在測試 1 GB 或更高多模光纖時顯得尤為必要。
那么，解決方案是什么呢？答案是利用一種稱為環(huán)形通量 (EF) 的標準，這是一種對以往方法所作的重大改進。環(huán)形通量 (EF) 是一種分析多模光源（例如： LED 或激光）啟動條件的方法。它是在光源將光照射入多模光纖時光纖芯徑內(nèi)的功率百分比，并且它是通過近場測量來自連接測試儀器的參考等級測試線端的光確定的。
EF 標準可以將損耗測量的偏差減少至 +/- 10%。與以前允許高達40% 偏差的標準相比，EF 標準在多模測試的準確性和可重復性方面有了大幅改善。因此，需要進行線纜認證以及批準布線保證的相關(guān)組織和人員已經(jīng)開始要求遵守這一新標準。
目前有可用于現(xiàn)場測試的環(huán)形通量 (EF) 解決方案。它們被稱作“發(fā)射控制器”，是與模式調(diào)節(jié)器一起安裝的特制測試級參考線。發(fā)射控制器的工作原理是在 EF 技術(shù)指標范圍內(nèi)限制測試線發(fā)射的模式組數(shù)量。這樣可確保根據(jù)標準，結(jié)果測量是精確且可重復的。
是否達到環(huán)形通量 (EF) 標準由測試儀器供應商確認，它們使用專門的實驗室設(shè)備對多模光纖內(nèi)包含的不同模式之間的功率分布直接進行測量。
測量包括使用視頻和處理方法，分析測試線端的近場分布。圖像會轉(zhuǎn)變?yōu)閿?shù)據(jù)和圖解說明?？梢栽谶x定的 EF 限值范圍內(nèi)繪圖，以檢查其是否合規(guī)。
The Telecommunications Industry Association (TIA) and?International Electrotechnical Commission (IEC) standards bodies both have documents that describe the requirements for EF.
EF 在將多模鏈路損耗測量縮小至 10% 偏差目標方面是一個重大進步。它將改善諸如模態(tài)功率分布和耦合功率之類的舊方法。由于符合 EF 標準的測試儀器會為認證測試提供最可靠的結(jié)果，因此網(wǎng)絡(luò)工程師和設(shè)計師需要更新他們的測試技術(shù)指標，以要求使用符合 EF 標準的光源。
值得高興的是Fluke Networks ?今年已經(jīng)推出Fluke DTX–EFM2 環(huán)型通量多模光纖模塊 ?配合DTX-1800我們就可以實現(xiàn)測試環(huán)境了。
相關(guān)閱讀光纖環(huán)型通量 (EF) 測量白皮書：http://qqmmqq.cn/archives/ef.html
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