環(huán)形通量 —它是什么？

深圳連訊 — Fri, 07 Jun 2013 06:58:55 +0000

隨著 LC/MPO 盒之類低損耗光纖組件的推廣應(yīng)用，損耗預(yù)算（測試限制）變得越來越小。這樣一來，安裝商會發(fā)現(xiàn)以前進行光線測試的方法和假設(shè)不再適用。

雖然電信工業(yè)協(xié)會 (TIA) 依舊允許每個連接器的衰減為 0.75 dB，但工廠拋光連接器的衰減接近 0.2 dB。因此，在測試 TIA 極限值時，安裝商面對諸多的不確定性。換句話說，他們的測試實踐需要合理化，而不求完美。

然而，咨詢?nèi)藛T和布線供應(yīng)商現(xiàn)在都開始根據(jù)組件性能而不是標準精確計算損耗預(yù)算。測試實踐中的允許公差已不存在。為了與時俱進，安裝商需要重新評估他們的光纖測試儀設(shè)備和程序。

通過艙壁接合器設(shè)置基準不再是可有可無，而必須運用一條基準測試線（1 個跳接）保持從源到儀表的基準。進行某些設(shè)置時，需要對新的測試設(shè)備進行投資并提供一些必要相關(guān)培訓(xùn)。

測試基準線也必須配備基準等級連接器，ISO/IEC 14763-3將其定義為在多種模式下=0.1 dB，在單一模式下 =0.2 dB。當(dāng)?shù)蛽p耗盒配備 0.15 dB LC 連接器時，若使用任何不及 0.15 dB 的 LC 連接器進行測試，結(jié)果將不容樂觀或者可能失敗。

當(dāng)許多安裝商正競相調(diào)整和優(yōu)化他們的測試程序時，在本篇文章的最后部分將介紹降低測量不確定性的方法，您可能已經(jīng)聽說過。它稱作環(huán)形通量 (EF)。

如果兩個技術(shù)人員使用帶基準等級連接器及心軸的相同基準測試線，但采用兩種不同的光源，那么可能會出現(xiàn)兩種不同的讀數(shù)。我們從 ISO/IEC 14763-3在測量不確定性方面所做的工作了解到，使用相同的源能夠?qū)⑺p度限制在 +/- 0.09 dB 范圍內(nèi)。

這便是光纖測試的性質(zhì)。光纖連接被認為是隨機的，這是配備基準等級連接器非常重要的原因。然而，如果您當(dāng)時使用兩個不同的光源，即使您已經(jīng)對它們做出了調(diào)整，也會出現(xiàn)額外的不確定性。這一不確定性是由光射入光纖的方式導(dǎo)致的。

很多年前，雖然有時被稱為耦合效率 (CPR)，TIA 還是嘗試這一發(fā)射概念定義。那是一個很好的嘗試，但源之間的發(fā)射依然存在太多的可變性。因此，在2010中， TIA 和 IEC 創(chuàng)建了 EF，以便進一步限制發(fā)射條件。

關(guān)于那些插入標準數(shù)字的排列，您需要留意針對 EF 的 ANSI/TIA-526-14-B 或 IEC61280-4-2 （它們是相同的文檔）。缺失這個標準即是如何在這一領(lǐng)域進行實施。很多人認為，這是屬于實驗室的要求，因為目前在這一領(lǐng)域的實施狀況并不理想。

為此， TIA 正致力于解決 TIA-TSB-4979 的實際問題，以實現(xiàn)這一領(lǐng)域多模發(fā)射的條件。電信系統(tǒng)公告介紹了兩種方法。一種是使用替代心軸的模式調(diào)節(jié)器，這種方法不太令人滿意（而且成本不菲）。另外一種方法是配備剔除了多余模式設(shè)備的 EF 兼容源。

EF 兼容似乎將成為接下來一年許多測試規(guī)范的需求，因此，安裝商可能會關(guān)注這一領(lǐng)域的發(fā)展。

如何通過環(huán)形通量提高多模測試準確性

深圳連訊 — Fri, 07 Jun 2013 06:35:15 +0000

如何通過環(huán)型通量提高多模測試準確性 ?文章來自福祿克網(wǎng)絡(luò)

Anyone who’s ever tested a multimode fiber optic link with light sources from different equipment?vendors will know that the loss measurement can vary by as much as 50 percent.若未進行適當(dāng)控制，則多模光源會以不同的方式將光注入多模光纖。?即使采用同一制造商生產(chǎn)的光源，但在不同的發(fā)射條件下也會產(chǎn)生不同的鏈路損耗測量結(jié)果，最終出現(xiàn)不同的 — 并且通常令人困惑的 — 測試結(jié)果。

Overfilling tends to produce link-loss measurements that are inappropriately high and under filling tends to generate loss measurements that are optimistic in regards to the loss that will occur in the cabling once it is operational.?不同類型的光源會有不同的發(fā)射條件。例如：發(fā)光二極管 (LED) 會使多模光纖過多填充模式組，而激光又未使光纖填充足夠的模式組。

這些有缺陷的結(jié)果最終會影響布線基礎(chǔ)設(shè)施的性能，并且會造成數(shù)據(jù)中心和其它依靠光纖布線連接組件的環(huán)境方面的嚴重問題。

當(dāng)考慮到網(wǎng)絡(luò)技術(shù)已經(jīng)進步并且損耗預(yù)算已經(jīng)減少時，這就有些雪上加霜了。為了滿足緊縮的損耗預(yù)算，必須最大限度地減少測試不確定性。因此，新型高性能寬帶業(yè)務(wù)應(yīng)用程序就成了現(xiàn)場測試儀器進行更準確和可重復(fù)進行多模衰減測量所需的動力。

行業(yè)專家認為有必要減小發(fā)射條件偏差，這在測試 1 GB 或更高多模光纖時顯得尤為必要。

那么，解決方案是什么呢？答案是利用一種稱為環(huán)形通量 (EF) 的標準，這是一種對以往方法所作的重大改進。環(huán)形通量 (EF) 是一種分析多模光源（例如： LED 或激光）啟動條件的方法。它是在光源將光照射入多模光纖時光纖芯徑內(nèi)的功率百分比，并且它是通過近場測量來自連接測試儀器的參考等級測試線端的光確定的。

EF 標準可以將損耗測量的偏差減少至 +/- 10%。與以前允許高達40% 偏差的標準相比，EF 標準在多模測試的準確性和可重復(fù)性方面有了大幅改善。因此，需要進行線纜認證以及批準布線保證的相關(guān)組織和人員已經(jīng)開始要求遵守這一新標準。

目前有可用于現(xiàn)場測試的環(huán)形通量 (EF) 解決方案。它們被稱作“發(fā)射控制器”，是與模式調(diào)節(jié)器一起安裝的特制測試級參考線。發(fā)射控制器的工作原理是在 EF 技術(shù)指標范圍內(nèi)限制測試線發(fā)射的模式組數(shù)量。這樣可確保根據(jù)標準，結(jié)果測量是精確且可重復(fù)的。

是否達到環(huán)形通量 (EF) 標準由測試儀器供應(yīng)商確認，它們使用專門的實驗室設(shè)備對多模光纖內(nèi)包含的不同模式之間的功率分布直接進行測量。

測量包括使用視頻和處理方法，分析測試線端的近場分布。圖像會轉(zhuǎn)變?yōu)閿?shù)據(jù)和圖解說明?？梢栽谶x定的 EF 限值范圍內(nèi)繪圖，以檢查其是否合規(guī)。

The Telecommunications Industry Association (TIA) and?International Electrotechnical Commission (IEC) standards bodies both have documents that describe the requirements for EF.

EF 在將多模鏈路損耗測量縮小至 10% 偏差目標方面是一個重大進步。它將改善諸如模態(tài)功率分布和耦合功率之類的舊方法。由于符合 EF 標準的測試儀器會為認證測試提供最可靠的結(jié)果，因此網(wǎng)絡(luò)工程師和設(shè)計師需要更新他們的測試技術(shù)指標，以要求使用符合 EF 標準的光源。

值得高興的是Fluke Networks ?今年已經(jīng)推出Fluke DTX–EFM2 環(huán)型通量多模光纖模塊 ?配合DTX-1800我們就可以實現(xiàn)測試環(huán)境了。

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環(huán)形通量 —它是什么？

如何通過環(huán)形通量提高多模測試準確性