???? ?根據(jù)美國(guó)TIA/EIA-568B?標(biāo)準(zhǔn)，在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試多模光纜時(shí)，必須使用卷軸（Mandrel）。因?yàn)樗梢岳闷胀ǖ?/span>LED?型散射面廣的光源用來認(rèn)證62.5　m?和?50　m?多模光纜是否可以支持千兆甚至萬兆以太網(wǎng)。高層次和低層次的模式
????多模光纜的特點(diǎn)是在光纖上會(huì)同時(shí)載有多個(gè)光路徑。這些路徑，有些是匯聚在光纜的中心部分（“低層次”模式），有些卻在光纜傳輸部分的邊緣彈跳著（“高層次”模式）。

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?????“高層次”模式由于光纜鏈路的弧度變化和制造特性，會(huì)出現(xiàn)由于衰減造成的測(cè)試結(jié)果重復(fù)性低的特點(diǎn)。相對(duì)來說，”低層次”模式的光一般比較穩(wěn)定。在測(cè)試時(shí)，需要用一個(gè)能發(fā)出“低層次”光的光源，這會(huì)讓測(cè)試結(jié)果更精確和更有重復(fù)性?？梢杂脙煞N方法實(shí)現(xiàn)：?
??▲用一個(gè)只會(huì)發(fā)出”低層次”模式光，如VCSEL激光的光源。?
??▲用一個(gè)普通的光源（發(fā)出”高層次”和”低層次”模式的），加上一個(gè)可以刪除“高層次”光的外設(shè)調(diào)節(jié)設(shè)備。

發(fā)射卷軸
?????發(fā)射卷軸的原理是通過多個(gè)大弧度，把“高層次“模式的光消耗掉。下面的圖形顯示了如何通過外設(shè)調(diào)節(jié)設(shè)備，如“發(fā)射卷軸”，讓一個(gè)普通的光源（發(fā)出”高層次”和”低層次”模式的）可以模擬VCSEL光源只發(fā)出“低層次”光的特性。

上圖依次為：
?VCSEL?光源
??普通多模光源
??普通多模光源配上發(fā)射卷軸

福祿克網(wǎng)絡(luò)的光纜測(cè)試系列和發(fā)射卷軸

?????福祿克網(wǎng)絡(luò)提供多種光纜測(cè)試工具。最受歡迎的DSP-4000,DTX-1800?系列線纜認(rèn)證分析儀,?除了配有多模和單模的光纜測(cè)試適配器外，還有配有VSCEL?光源的光纜測(cè)試適配器，可以直接認(rèn)證光纜是否滿足千兆以太網(wǎng)的要求。

????如果只需要光衰減值，可以選擇經(jīng)濟(jì)的SimpliFiber。SimpliFiber?的光表，可以自動(dòng)識(shí)別光源發(fā)出的波長(zhǎng)，如850nm?或1300nm。在測(cè)試時(shí)不會(huì)因?yàn)樵O(shè)置錯(cuò)誤引起誤判，延誤工程或診斷效率?？梢源鎯?chǔ)100個(gè)測(cè)試結(jié)果。

?????福祿克網(wǎng)絡(luò)為以上測(cè)試儀提供兩個(gè)滿足TIA-568B?要求的支持業(yè)內(nèi)最常用的3mm?光纜的發(fā)射卷軸：對(duì)于50微米的光纜是22mm?的發(fā)射卷軸，對(duì)于62.5微米的光纜是17mm?發(fā)射卷軸。當(dāng)用發(fā)射卷軸時(shí)，必須從校準(zhǔn)時(shí)開始，直到測(cè)試完畢后才可拆除。
校準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備

測(cè)試光鏈路衰減