多模光纖光源的環(huán)型通量 (EF) 發(fā)射一直受到標(biāo)準(zhǔn)委員會、設(shè)備供應(yīng)商和用戶的歡迎。TIA 工作小組 TR42.11 啟動了大型循環(huán)法測試，這吸引了許多有興趣的參與者以及許多 IEC 和 ISO 小組委員會成員。啟動的此次循環(huán)法測試旨在檢查用于 EF 測量設(shè)備的當(dāng)前狀態(tài)。有人懷疑由于 EF 是受限發(fā)射，因此 EF 設(shè)備可能不具有可降低測量不確定性的精度。數(shù)年前在 IEC SC86B 標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)進(jìn)行了類似測試，數(shù)據(jù)顯示被測的某些模發(fā)射設(shè)備超出了 EF 模板。如果測試時對設(shè)備進(jìn)行了正確校準(zhǔn)，就不會出現(xiàn)這個問題。新循環(huán)法測試的目的在于測量 EF 測量設(shè)備的變化性，并幫助進(jìn)行此類型測試的人員樹立信心。循環(huán)法測試為期 19 個月。測試樣本經(jīng)過了代表北美、歐洲和日本公司的 14 名參與者的評定。研究中使用過了五種不同類型的近場發(fā)射測量設(shè)備。循環(huán)法使用的測試樣本是兩個 LED 雙波長光源。由于循環(huán)法的目的是測量 EF 設(shè)備之間的差異，因此這些測試樣本本身并不代表經(jīng)過校準(zhǔn)符合 EF 的發(fā)射。
測試協(xié)議
測試期間使用的 LED 光源是包含雙波長 850/1300 nm“組合器”的生產(chǎn)單元。兩種光源均可配合 50 ?m 或 62.5 ?m 光纖測試線使用。光纖測試線長度為 1 米，被永久固定在光源的隔板上。用于 50 μm 和用于 62.5 μm 的儀器如測試線般安裝在平臺上。測試期間只可操作一小段測試線。測試線上安裝了用作調(diào)諧模式過濾器的多個“空轉(zhuǎn)”。對模式過濾器進(jìn)行了“調(diào)諧”，以將 850 nm 設(shè)置在 EF 模板的目標(biāo)上。1300 nm 響應(yīng)保持在 EF 模板內(nèi)，但與其目標(biāo)之間存在偏差。EF 設(shè)備帶有獨立的用于 850 nm 和 1300 nm 的成像系統(tǒng)時會出現(xiàn)此情況。參與者收集了不同 EF 案例的數(shù)據(jù)：850/1300 nm 用于 50 ?m 布線，850/1300 nm 用于 62.5 ?m 布線。為了進(jìn)行簡化，并且由于對 50 ?m布線數(shù)據(jù)的更多關(guān)注，此份文件只顯示了該數(shù)據(jù)。要求各參與者進(jìn)行三次測量，但在最終分析時使用的是平均值。為便于控制，將光源返還至名為“參照測試臺”的原始地點，在此對其進(jìn)行重新檢查、更換電池等操作。在將光源交付給參與者之前收集數(shù)據(jù)，參與者完成測量并返還光源。北美和歐洲各設(shè)有一個EF 參照測試臺。在各參照測試臺處進(jìn)行的測量被用于建立基線。
目的
此次循環(huán)法測試的目標(biāo)包含多個部分如前所述，主要原因是評估 EF 測試設(shè)備之間的差異。第二目標(biāo)是發(fā)現(xiàn)測量的異常和異常值，以確定根源。第三目標(biāo)是獲得 EF 測試的信心，因此將測試儀器用于現(xiàn)場時，我們可以感受到對網(wǎng)絡(luò)衰減測量的信心。第四目標(biāo)是進(jìn)行所有參與者測量數(shù)據(jù)平均值的不確定性分析，并為測量指定設(shè)置不確定性。
數(shù)據(jù)解釋
為了降低不明確性并排除循環(huán)法測試的樣本變化性，我們對測試結(jié)果進(jìn)行了標(biāo)準(zhǔn)化。換言之，參與者的測試是相對于將樣本交付給參與者之前進(jìn)行的基線測試進(jìn)行的?；€測試用于以 EF 模板量級為界限建立新的 EF 目標(biāo)。100% 和 -100% 界限表示 EF 上限和下限之間的范圍，不是真實值。
EFLΔ 和 EFUΔ 表示相對于 EF 目標(biāo)（現(xiàn)已被基線測試代替）的 EF 模板量級。基線 #5 是向參與者發(fā)送樣本之前進(jìn)行的測試。測試 #5 是實際的參與者測試。后測試 #5 是參與者 #5 返還樣本之后進(jìn)行的測試。在此示例中，參與者 #5 保持在 EF 模板內(nèi)。更多詳情參見圖 1。
圖 1 – 對比前后基線測試的測試結(jié)果
長期偏移
在循環(huán)法測試之初觀察到了樣本的偏移現(xiàn)象。由于在測試方法中采用了標(biāo)準(zhǔn)化測量，因偏移可能已影響到結(jié)果，因此未被包含在數(shù)據(jù)中。獨立測試表明測試線使用的 3 mm 護(hù)套出現(xiàn)收縮。經(jīng)過數(shù)周，這種收縮在溫度升高的恒溫槽中重現(xiàn)。收縮使得模式過濾量多于測試樣本首次設(shè)置的過濾量。圖 2 顯示了 9 個月的期限內(nèi) EF 響應(yīng)的變化。原始測試樣本被設(shè)置在位于兩個虛線中間的 EF 目標(biāo)上。如果不熟悉 EF 模板，圖 2 只顯示了 20 ?m 和 22 ?m 處的模板。此區(qū)域是對使用測試設(shè)備進(jìn)行的損耗測量影響最大的區(qū)域。
圖 2 – 9 個月的期限內(nèi)的樣本偏移
850 nm 50 μm 測試結(jié)果為了簡明起見，此份文件中并未顯示所有數(shù)據(jù)。由于 50 ?m 布線中的 850 nm 處是最重要的區(qū)域，圖 3 顯示了此區(qū)域的所有數(shù)據(jù)。所有 14測試都被合成在一個圖片中，以顯示平均值以及基于結(jié)果分布的一測回標(biāo)準(zhǔn)偏差帶。一測回標(biāo)準(zhǔn)偏差表示，所有 EF 測量值在模板內(nèi)的置信系數(shù)均為 75%。在循環(huán)法測試期間，所有參與者均在 EF 模板內(nèi)。但是由于參與者之間的分布不同，因此標(biāo)準(zhǔn)偏差提高。在圖 4 中，顯示了平均值和二測回標(biāo)準(zhǔn)偏差。二測回標(biāo)準(zhǔn)偏差表示，EF 結(jié)果保持在標(biāo)準(zhǔn)偏差限值內(nèi)的置信系數(shù)為 95%。注意在 20 ?m 控制點上，二測回標(biāo)準(zhǔn)偏差虛線稍稍超出了 EF 模板。這個數(shù)量表示，在布線衰減測量期間存在 1.8% 的不確定性。
圖 3 – 測試的平均值和一測回標(biāo)準(zhǔn)偏差
圖 4 – 測試的平均值和二測回標(biāo)準(zhǔn)偏差
摘要14 名參與者使用不同的 EF 測量設(shè)備對兩個 LED 光源進(jìn)行了測試。各參與者均在初始基線測試的短時間內(nèi)完成了測試。通過將基線設(shè)置為零對所有測試進(jìn)行了標(biāo)準(zhǔn)化。在兩個地點使用了參照測試臺。觀察到較慢的 EF 響應(yīng)偏移，這歸因于溫度對 3 mm 護(hù)套的影響。所有參與者均在 EF 模板內(nèi)。平均 EF 結(jié)果在 EF 限值內(nèi)，但由于使用了兩個西格瑪值，測試分布未被嚴(yán)格分組。使用平均 EF 值和一測回標(biāo)準(zhǔn)偏差（75% 的置信系數(shù)），所有參與者均在 EF 模板內(nèi)。對于二測回標(biāo)準(zhǔn)偏差（95% 的置信系數(shù)），在一個控制點處存在另外 1.8% 的不確定性（20 ?m 用于 850 nm/50 μm）。
結(jié)論實際應(yīng)用中的 EF 測量可以具有一定的合理不確定性。并且即便使用二測回標(biāo)準(zhǔn)偏差范圍和稍稍超出模板的結(jié)果，EF 也比模功率分布 (MPD)等原來的標(biāo)準(zhǔn)好很多。但是，人們肯定認(rèn)為不確定性主要取決于模板目標(biāo)是否符合 EF 標(biāo)準(zhǔn)。這使得他們會更加注重 850 nm 下 50 ?m 的布線方法。但此時，EF 標(biāo)準(zhǔn)不區(qū)分波長和光纖尺寸的規(guī)范和信息要求。EF 結(jié)果分布可能與校準(zhǔn)差異、用戶技巧和不同設(shè)備類型、IEC 61280-1-4 不合規(guī)性及其他因素相關(guān)。通過更好的校準(zhǔn)和跟蹤改善系統(tǒng)不確定性將使標(biāo)準(zhǔn)偏差得到改善（降低分布）。此時使用精準(zhǔn)工件校準(zhǔn)的 EF 設(shè)備無需依賴對國家標(biāo)準(zhǔn)實驗室的追溯。有關(guān)符合環(huán)型通量解決方案的更多信息 — 請訪問?http://www.faxy-tech.com/Products/DTX-EFM2.html
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隨著環(huán)型通量 (EF) 多模光纖模塊的推出，DTX CableAnalyzer 可提供符合 TIA-526-14-B 和 IEC 61280-1-4 EF 要求的有效且實用的解決方案。
- 帶有 DTX CableAnalyzer? 符合環(huán)型通量 (EF) 的有效多模光纖測試
- 帶有板載模塊和 EF 測試參考線最緊湊實用的 EF 解決方案
- 12 秒自動測試 — 對兩根光纖的兩個波長進(jìn)行損耗測量，光學(xué)損耗預(yù)算計算，以及“通過/失敗”結(jié)果
- 使用 LinkWare? 軟件快速記錄符合 EF 的測試結(jié)果
- 連通性和極性驗證簡單
- 板載可視化故障定位器 (VFL) 可確定光纖位置和斷開位置
由于企業(yè)帶寬需求提高，對于安裝人員和網(wǎng)絡(luò)所有者而言，對他們的光纖鏈路進(jìn)行符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的認(rèn)證并記錄從而防止網(wǎng)絡(luò)中斷和利潤損失比以往更為重要。
用于 DTX CableAnalyzer 的 Fluke Networks DTX-EFM2 環(huán)型通量多模模塊可使您在確保合規(guī)性的同時進(jìn)行輕松準(zhǔn)確的測試。TIA-526-14-B 和 IEC 61280-1-4 標(biāo)準(zhǔn)中限定了 EF 要求。環(huán)型通量合規(guī)性可將損耗測量偏差降低至目標(biāo)值 +/- 10%，從而降低測量不確定性并提高每次測量的可重復(fù)性。這是電纜制造商期待的保修標(biāo)準(zhǔn)。
與 EF 測試參考線 (DTX-EFM2) 匹配的 DTX 環(huán)型通量光纖模塊是快速升級以實現(xiàn) EF 合規(guī)性的簡單方法。無需進(jìn)行專業(yè)培訓(xùn)或更改正常測試程序。
福祿克FLuke DTX–EFM2 環(huán)型通量多模光纖模塊產(chǎn)品特性
符合環(huán)型通量的多模光纖認(rèn)證
TIA-526-14-B 和 IEC 61280-1-4 現(xiàn)在需要更嚴(yán)格的啟動條件才可降低測試不確定性。對于熟悉 DTX CableAnalyzer 的用戶，無需額外培訓(xùn)即可通過 DTX-EFM2 利用這些新模塊執(zhí)行符合 EF 的測試。帶有環(huán)型通量測試參考線 (EF-TRC) 的 DTX-EFM2 可提供最有效實用符合 EF 標(biāo)準(zhǔn)的測試解決方案。分別對這些 EF-TRC 進(jìn)行了調(diào)諧，以使任何 DTX-EFM2 均可在 EF-TRC 末端進(jìn)行符合 EF 的發(fā)射。
基本（第 1 級）光纖認(rèn)證
DTX 光纖模塊提供基本（第 1 級）光纖認(rèn)證解決方案 – 損耗、長度和極性測量。根據(jù)業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)驗證光纖鏈路性能。在多個波長上測量光損耗、測量光纖長度以及驗證極性。您可以不可思議的速度對兩根光纖的兩個波長進(jìn)行雙向測試，而且無需交換主裝置和遠(yuǎn)端裝置，這是 Fluke Networks 獨家提供的功能?？苫Q使用的接頭適配器允許參考和測試連接線路，如果該連接滿足大多數(shù) SFF（小型）光纖接頭的 TIA/ISO 標(biāo)準(zhǔn)。
競爭廠商的光纖測試儀每次自動測試時僅能測量長度和兩種損耗的測量值，與之不同的是，DTX 是唯一能夠在每次自動測試時測量長度和四種損耗測量值（所有這些均在大約12秒內(nèi)完成）的光纖測試解決方案。有了 DTX 光纖模塊，光纖測試速度可較競爭廠商提高五倍。
Linkware? 報告
使用 LinkWare Cable Test Management Software 節(jié)省了管理測試結(jié)果的時間
您也可以從我們的網(wǎng)站免費獲得 LinkWare。當(dāng)您完成工作后，即可將這個功能強(qiáng)大的應(yīng)用程序交給客戶，這樣他們就能通過電子方式立即使用數(shù)據(jù)。您也可打印測試結(jié)果或?qū)?shù)據(jù)導(dǎo)出為 Adobe 的 PDF 文檔。
LinkWare 的全面數(shù)據(jù)管理功能：
- 現(xiàn)在包含在 LinkWare 7.x 中的 LinkWare StatsTM 使您能夠全面地了解整個布線設(shè)備的性能
- 使用單一的軟件管理銅纜和光纜測試結(jié)果，支持 Fluke Networks 的全線電纜測試儀
- 提供專業(yè)、定制的圖形化報表，采用適合所有 Fluke Networks 線纜測試儀的通用格式
- 具有配置和打印符合 TIA 606-A 標(biāo)準(zhǔn)的文檔的能力
- 拖放功能可以更方便地管理和組織多個項目
- 與主要的 CMS（線纜管理軟件）應(yīng)用程序兼容
- 借助廣受全球用戶喜愛的線纜測試管理軟件 LinkWare 的簡單用戶界面和省時功能，提高工作效率
LinkWare 軟件可以打印專業(yè)的圖形化報表，并采用彩色圖表來描述所測得的測試參數(shù)。可以選擇要打印的參數(shù)以及圖形顯示的順序。也可以用您公司的徽標(biāo)定制報表。
福祿克FLuke DTX–EFM2 環(huán)型通量多模光纖模塊產(chǎn)品選型：
| 型號/名稱 | 說明 |
| DTX-EFM2 | 雙件套裝 DTX 環(huán)型通量多模光纖模塊，分別包括： 組合到單個輸出端口的 850 nm 和 1300 nm LED 光源 符合環(huán)型通量的套裝測試參考線 (EF-TRC) 850/1300/1310/1550 nm 功率計 集成 VFL |
| DTX-1800-E | DTX-1800 和雙件套裝 DTX 環(huán)型通量多模光纖模塊，分別包括： 組合到單個輸出端口的 850 nm 和 1300 nm LED 光源 符合環(huán)型通量的套裝測試參考線 (EF-TRC) 850/1300/1310/1550 nm 功率計 集成 VFL |
| DTX-1800-E 120/GLD | 帶環(huán)形通量多模光纖模塊的 DTX-1800 及一年金牌支持（僅限于美國和歐洲。歐洲訂購 DTX-1800-E/GLD-EU） |
| 型號/名稱 | 說明 |
| MRC-50EFC-SCLCKIT | 50 ?m LC 雙工光纖測試工具包 |
| MRC-50EFC-SCSCKIT | 50 ?m SC 光纖測試工具包 |
| MRC-50EFC-SCSTKIT | 50 ?m ST 光纖測試工具包 |
| MRC-50EFC-SCFCKIT | 50 ?m FC 光纖測試工具包 |
| MRC-625EFC-SCLCKIT | 62.5 ?m LC 光纖測試工具包 |
| MRC-625EFC-SCSCKIT | 62.5 ?m SC 光纖測試工具包 |
| MRC-625EFC-SCSTKIT | 62.5 ?m ST 光纖測試工具包 |
| MRC-625EFC-SCFCKIT | 62.5 ?m FC 光纖測試工具包 |
福祿克FLuke DTX–EFM2 環(huán)型通量多模光纖模塊技術(shù)參數(shù)：
| 光學(xué)規(guī)格 (23?C) | |
| 輸入（儀表）接頭 | 產(chǎn)品標(biāo)配的可拆卸 SC 適配器。可選的可拆卸適配器：LC、ST 和 FC |
| 輸出（光源）接頭 | 固定 SC 適配器 |
| 光源類型和額定波長 | |
| 光源功率 | DTX-MFM2：≥ -20 dBm，DTX-SFM2：≥ -7 dBm |
| 長度測量 | DTX-MFM2：≤ 5,000 m，62.5 或 50 μm 光纖 DTX-EFM2：≤ 5,000 m，62.5 或 50 μm 光纖 DTX-SFM2：≤ 10,000m，9 μm 單模光纖 |
| 功率計類型 | InGaAs 檢測器 |
| 功率測量范圍 | 0 至 -60 dBm（1310 nm 和 1550 nm） 0至 -52 dBm（850 nm） |
| 帶 EF-TRC* 的 DTX-EFM2 啟動條件 | 環(huán)型通量符合 TIA 526-14-B、ISO/IEC 14763-3和 IEC 61280-4-1 標(biāo)準(zhǔn) |
| VFL 規(guī)格 (23?C) | |
| 激光類型和額定波長 | Class II CDRH，650 nm |
| 輸出模式 | 連續(xù)波和閃爍模式 |
| 接頭適配器 | 2.5 mm 通用 |
| 環(huán)境規(guī)格 | |
| 工作溫度 | 0°C 至 40°C |
| 貯存溫度 | -20°C 至 60°C |
| 安全 | CE、CSA、EN 61010-1 |
| 一般規(guī)格 | |
| 標(biāo)稱尺寸（高 x 寬 x 長） | 4.2″ x 3.0″ x 1.1″ (106 mm x 76 mm x 28 mm) |
| 標(biāo)稱重量 | 0.31 磅（0.14 千克） |
*附注：
1) EF-TRC 輸出
2) EF 測量設(shè)備之間可能存在差異，但 EF 合規(guī)性的置信因數(shù)可能為 95%
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