使用測試跳線有兩個原因。第一，是因為已經(jīng)安裝好的被測光纖鏈路可能兩端是插座，此時還沒有上設(shè)備，所以也沒有設(shè)備跳線。為了測試方便，需要用一根測試跳線插到插座上去做測試，這就是我們說的光纖“鏈路測試”(Link Test)。第二，也是最重要的，在測試的時候，如果被測鏈路兩端是插頭而非插座，若直接將被測鏈路插入測試光源的端口，則光源端口發(fā)出的光能量耦合到光纖中會隨著每根接入光纖的“微結(jié)構(gòu)差異”而有所不同，這會帶來被測光纖鏈路測試有效光能量的光耦合效率不穩(wěn)定。

耦合效率不穩(wěn)定具體是指什么呢？

它說的是，每次用來測試的光，射入被測光纖鏈路當中的測試光能量應(yīng)該是一樣的，這樣光功率計上顯示的值才是比較確定和可信的，否則，僅僅是因為換了一根測試跳線，測得的光纖鏈路損耗就可能不一樣，有的情況下甚至波動會超過50%?— 這叫測試的不確定性。

可是，直接插到光源上進行測試真的很方便，不是嗎？

如果是光纖通道(兩端是插頭)，直接插入到光源端口和光功率計端口來進行損耗測試確實比較方便。但問題在于，將光纖通道一端的插頭直接插在光源的輸出口上，那么由于每一條被測鏈路的插頭都有可能存在微小的幾何結(jié)構(gòu)區(qū)別。這樣每次光源耦合給光纖的能量就有可能是不同的，這會造成測試結(jié)果的波動和偏差比較大。另一個副作用，也可能是更重要一個的“不利影響”，那就是經(jīng)常性地插拔會導(dǎo)致光源輸出口快速磨損，造成耦合精度和穩(wěn)定性進一步下降。所以在測試光纖的時候，一定要使用測試跳線 —?它的好處是，一旦測試跳線插入光源后就不能再插拔，而只需將測試跳線的另一頭插入被測鏈路一端的插座即可。這樣可保證光源耦合給光纖鏈路的功率比較穩(wěn)定。如果被測鏈路是通道(兩端不是插座而是插頭)，則測試時使用耦合器連接到測試跳線即可。耦合器就是我們熟悉的“法蘭”，或叫插座模塊。

這么說的話，難道測試跳線就不存在插拔磨損嗎？

當然，光纖測試跳線插入被測鏈路兩端的插座時也存在磨損，這個磨損和插在光源端口上的磨損有些相似。但是，時常更換磨損的光纖跳線，其成本比更換測試光源的端口插座及其組件的成本要低得多 — 它們之間的價格可能會超出10倍甚至100倍不止。所以，所有標準都要求，為了保證測試的精度，減少光源輸出端口及組件的成本消耗，必須使用測試跳線來實施損耗測試。

那可以自己更換光源的端口組件嗎？

不可以。一般都需要到廠商維修中心進行更換，這主要是因為裝配技術(shù)和裝配精度問題。當然，更換組件期間可能會嚴重影響測試儀器的使用效率，耽誤工期。所以一定要求測試者盡量使用測試跳線，頻繁磨損的只是測試跳線的一端而已。

明白了。測試必須使用測試跳線，可以自行視情更換。

是的。必須使用跳線還有一個原因，就是有些鏈路雖然是不能用光源直接進行測試，也可能測試結(jié)果可能刻意地不包含某些鏈路部件。例如，被定義的光纖鏈路模型有時候需要考慮兩端連接器的損耗，有時則只考慮一端的損耗，而有時候則只考慮取得光纖段的損耗即可，不需要兩端連接器的損耗 —?這些都需要依據(jù)用戶的要求來確定測試跳線的數(shù)量和用法。在這些不同情況下，如何能獲得更準確的測試結(jié)果，可能需要靈活地進行測試跳線的接入，才能達到目的。

難道測試跳線的接入方法還有什么特別的門道嗎？

有的。為了扣除測試跳線本身的損耗影響，測試之前要先將測試跳線“歸零” —?也就是事先拿到測試跳線自身的損耗值，這樣才便于準確計算被測鏈路的損耗(扣除跳線損耗)。一般情況下，有“一跳線歸零”、“兩跳線歸零”和“三跳線歸零”法，以后我們可以專門介紹。

在計算損耗預(yù)算時，了解行業(yè)標準規(guī)定的已知應(yīng)用的損耗限值非常重要。但是，如果真的想知道如何根據(jù)限值設(shè)計系統(tǒng)，還需要了解特定供應(yīng)商的電纜和計劃部署的連接損耗——由此會影響您決定采用什么組件。這可能會使任務(wù)變得有點棘手，因為并非所有的電纜和連接器都完全一樣。

讓我們來看一個真實的例子。

首先確定應(yīng)用

不同光纖應(yīng)用具有不同的最大插入損耗要求，以確保損耗不會太高，以至于阻礙信號正確到達遠端。因此，第一項任務(wù)是確定系統(tǒng)上線時客戶計劃運行哪些光纖應(yīng)用，以及他們計劃可能在未來運行哪些應(yīng)用。

假設(shè)客戶正在設(shè)計一個數(shù)據(jù)中心，他們只計劃在多模光纖(10GBASE-SR)上運行10 Gig。但是，有些鏈路有可能需要在未來一兩年內(nèi)支持40 Gig。這意味著您不能將系統(tǒng)設(shè)計為僅滿足10 Gig限值，IEEE規(guī)定，400米的OM4多模光纖的最大通道插入損耗限值為2.9dB。

考慮到客戶計劃將某些鏈路升級到40 Gig，因此您在設(shè)計時需要考慮到這些限值。根據(jù)標準，OM4多模(40GBASE-SR4)上實現(xiàn)40 Gig應(yīng)用時，在OM4僅為150米的情況下最大通道插入損耗為1.5dB——比10 Gig限值要嚴格得多。

然后考慮組件

根據(jù)當前和未來應(yīng)用的通道損耗限值，現(xiàn)在可以查看供應(yīng)商的損耗指標了。滿足10 Gig的要求相對容易，因為典型的OM4光纖損耗為3dB/km或0.003dB/m，上例中數(shù)據(jù)中心的鏈路都是100米或更短。這為通道中的四個連接器保留了2.6dB的損耗裕量。假設(shè)客戶指定了一個供應(yīng)商，其MPO至LC配線盒的規(guī)定損耗為0.6 dB。因此我們得到：

100米多模光纖損耗0.3 dB + MPO至LC配線盒損耗(0.6dB X 4) = 2.7dB

這比2.9 dB標準低0.2 dB——接近限值但足夠用了。所有低于100米的鏈路都還具有額外的裕量。

但是，當計算未來可能支持的40 Gig應(yīng)用的損耗預(yù)算時，將遇到難題。通道的總損耗限值為1.5dB，連接器只剩下1.2dB的余量。從10Gig升級至40 Gig，您可以更換性能稍好一些的MPO適配器配線盒，比如說0.4 dB，但即便這樣，通道中也只能有3個連接器。

這會讓您難以抉擇——要么縮短光纖長度，限制通道中的連接器數(shù)量，要么找到更低損耗的連接器。縮短光纖鏈路可能會導(dǎo)致數(shù)據(jù)中心無法按預(yù)定設(shè)計工作，更不用說您必須將其長度縮短為原計劃的30％才能滿足指標要求，而且?guī)缀鯖]有任何裕量：

30米多模光纖損耗0.09 dB + MPO至LC配線盒損耗(0.4dB X 4) = 1.69dB

在通道中部署三個連接器意味著客戶在核心交換機上只能有一個交叉連接，在匯聚交換機上只能有一個互連。大多數(shù)客戶都希望其交換機端口保持完全獨立和安全，所有移動、增加和更改都在通道兩端的交叉連接處進行。為了實現(xiàn)這一目標，您需要兩個交叉連接，總共四個連接。

這就是越來越多的供應(yīng)商提供低損耗版本連接解決方案的原因。(專業(yè)提示：低損耗不意味著低成本)。例如，提到的供應(yīng)商提供的低損耗版本解決方案為0.35dB/配線盒，0.2dB/MPO適配器。利用上述損耗值，您可以繼續(xù)保持所有鏈路的長度，在通道中部署四個連接器，滿足在兩個交換機處進行交叉連接的設(shè)計要求，并留有一定的設(shè)計裕量。這需要一點基本的數(shù)學知識：

• 100米多模光纖損耗0.3 dB + MPO至LC配線盒損耗(0.35dB ? ? ?X 4) = 1.7dB（遠低于10GBASE-SR的2.9dB限值）

• 100米多模光纖損耗0.3 dB + MPO至LC配線盒損耗(0.2dB ? ? ?x 4) = 1.1dB (仍然在40GBASE-SR4的1.5dB限值范圍之內(nèi))

尋找更為簡單的方法

如您所見，確定已知應(yīng)用的實際損耗需要了解標準、光纖長度和連接器數(shù)量、特定供應(yīng)商規(guī)定的組件損耗以及一些基本數(shù)學知識。假如您細致而刻苦的話，上述方法當然可行，但利用特定供應(yīng)商的鏈路損耗計算器，您將再也無需任何猜測工作以及數(shù)學計算。

一些供應(yīng)商提供針對其組件的損耗計算器。福祿克網(wǎng)絡(luò)的CertiFiber? Pro光纖損耗測試儀(Versiv 布線認證系統(tǒng)的組成部分)以及LinkWare?Live云服務(wù)甚至將針對低損耗和超低損耗光纖組件的康普SYSTIMAX?鏈路損耗計算器直接集成至測試儀之中。

但請記住，不管您如何計算損耗預(yù)算，確保在預(yù)算范圍內(nèi)的唯一方法是在完成設(shè)施安裝之后，使用CertiFiber? Pro（CFP-100-Q，CFP-100-M，CFP-100-S）進行1級測試，從而測試通道的插入損耗。對于技術(shù)人員而言，這將是下一步的工作。

通過測試，您可以將設(shè)計計算值與實際結(jié)果進行比較——查看安裝的執(zhí)行情況，因為臟污的連接器和超出光纖彎曲半徑要求都會增加損耗。利用加載至CertiFiber Pro之中的限值(從U盤或從PC遠程下載至測試儀之中)，每條被測鏈接都將被判定為合格或不合格。在您修復(fù)和重新測試所有不合格鏈路之后，生成的報告可向您和您的客戶證明鏈路處于良好狀態(tài)。

對于衰減測量，最好是提供報告的損耗值，以及與該值相關(guān)的不確定度，然后將其與固定限值進行比較。損耗值(加不確定度)和測試限值之差稱為余量，按測試設(shè)備進行報告。然而，如果報告的合格余量較小，測量不確定度就非常重要。

下圖所示為損耗與測試限值關(guān)系的四種情況。對于下圖中的每種情況，菱形表示測量值，其附近的區(qū)域為不確定度，有時也稱為誤差帶。

四種測量情況以及誤差帶，與測試限值進行比較

情況1 -?測量值和不確定度都符合規(guī)定的限值。

情況2 -?測量值符合要求，但不確定度不符合。

情況3 -?測量值不符合要求，但不確定度可能符合(低概率)。

情況4 -?測量值和不確定度都不符合要求。

測量值接近限值時，情況變得“模棱兩可”。實際應(yīng)用中，誤差帶形狀實際為下圖所示的鐘形曲線。鐘形曲線為概率分布圖。給出的測量值為曲線的最高點。

測量值的不確定度分布

另一種方式，可以通過以下兩個例子進行觀察。下圖中，測量值的不確定度“溢出”了測試限值。此時，不合格的概率比較小，可能低于5%。

不合格的概率(較小)

下圖中，測量值非常接近測試限值。此時，合格(PASS)的概率為50%，不合格(FAIL)的概率為50%。也就是說，您有50/50的可能性通過測試(或不能通過測試)。

不合格的概率(50 %)

兩項國際標準，ISO/IEC 14763-3和IEC 61280-4-1，目前都經(jīng)過重新修訂，提供了關(guān)于測量不確定度的指導(dǎo)。特別是根據(jù)安裝的布線長度、損耗及測試方法提供了不確定度值。按照指導(dǎo)實施，您可非常確信安裝的布線能夠正常工作。例如，在IEC 61280-4-1標準中，第三版提供了一個關(guān)于多模布線設(shè)施衰減的表格，如表1所示。表1中還包括了ISO/IEC 14763-3標準定義的多模光纖設(shè)施的通道測試方法。注意，國際標準中使用的小數(shù)點是逗號而不是句號。

不同測試方法下的衰減測量不確定度

總而言之，測量不確定度的情況可能比較復(fù)雜。衰減測量值的余量與測試限值是相關(guān)的。如果余量較小，在確定合格結(jié)果是否可接受時，應(yīng)將測量不確定度考慮在內(nèi)。文中提及的國際標準為決策提供了必要的指導(dǎo)。

故障定位：a.污染（圖七a）

光纖連接頭出現(xiàn)污染可能的原因有：

? 使用了受到污染的切割工具（通過無水酒精擦拭工具表面）

? 切割完成后再次擦拭了光纖（絕對不要在切割后擦拭光纖）

? 將連接頭或光纖置于帶灰塵的表面

? 處于滿是灰塵的環(huán)境

? 插入已折斷的光纖，用力過度

需要注意的是如果污染一旦被帶入到光纖接頭內(nèi)部，特別是和接合凝膠接觸后，將很難再被清除出來，這也意味著光纖連接頭的報廢。

故障定位：

b.光纖碎裂（圖七b）

可能導(dǎo)致光纖碎裂的原因有：

?插入用力過度產(chǎn)生的光纖碎片污染

?插入已折斷的光纖引起碎裂

嵌入的光纖碎片將引起光纖縫隙和光學故障，并且嵌入的光纖碎片是很難被清除出來的，這種情況下光纖接頭將報廢。

故障定位：c. 光纖的不良切割或折斷（圖七c）

造成光纖切割不良或折斷的原因有：

?鈍的或有裂口的切割刀鋒 – 不能正常切割光纖

?切割工具上彎曲的標尺舌在光纖上施加了過度集中的彎力

?光纖彎折過多或者彎曲半徑過緊

?在切割中沒有用力或者用力不足

當沒有碎片產(chǎn)生或沒有受到污染的情況下，這種故障允許光纖連接頭被重新切割接續(xù)一次。

故障定位：d. 預(yù)置打磨光纖與切割光纖接續(xù)縫隙過大（圖七d）

造成接續(xù)縫隙過大的原因有：

? 光纖切割長度太短

? 光纖未完全導(dǎo)入, 或在端接時被回拉

? 在室外光纜接合時，光纖被推回到了護套管中

過大的光纖縫隙只允許被糾正一次。

故障定位：e. 過偏的光纖切割角度（圖七e）

在接續(xù)現(xiàn)場，切割角度過偏很難被覺察。引發(fā)切割角度過偏的因素有：

? 切割工具上的彎曲舌在光纖上施加過分集中的彎曲力

? 光纖彎折過大或者彎曲半徑過緊

? 在切割中沒有用力或者用力不足

一般光纖切割后，典型的切割角度為1-3度，即便使用更精密的切割刀，光纖切割后仍然有0.5-1度的偏角。出現(xiàn)偏角的情況可以通過使用可見紅光源（VFL）輸入，并且緩慢旋轉(zhuǎn)被切割的光纖端面，在PROclick連接頭的可視窗口內(nèi)監(jiān)視直到紅光消失的方法來解決。如圖七f。

通過上面的介紹，不難看出非打磨光纖現(xiàn)場接續(xù)對于接續(xù)工藝和操作技術(shù)的敏感，非打磨現(xiàn)場端接技術(shù)的關(guān)鍵還是在于安裝人員必須保持統(tǒng)一的切割和端接工藝，并且為使安裝過程受控和避免返工，在接續(xù)中總是通過檢測（如可視光源檢測）以建立在端接過程中的信心，降低接續(xù)失敗的風險。

深圳連訊達（0755-83999818）為中國最早從事福祿克銷售和技術(shù)支持工作的公司。今天為大家講解下有些客戶在工地上看到福祿克測試的儀器。DTX-1800測試光纖衰減，可以兩芯同時測試。但是不知道光纖模塊是什么型號。

其實是福祿克DTX-1800配套的光纖模塊，型號：DTX-SFM2（單模） 和DTX-MFM2（多模）

DTX 光纖模塊（DTX-SFM2，DTX-MFM2）提供基本（第1 級）光纖認證解決方案 – 損耗、長度和極性測量。根據(jù)業(yè)界標準驗證光纖鏈路性能。在多個波長上測量光損耗、測量光纖長度以及驗證極性。您可以不可思議的速度對兩根光纖的兩個波長進行雙向測試，而且無需交換主裝置和遠端裝置，這是?Fluke Networks 獨家提供的功能?？苫Q使用的接頭適配器允許參考和測試連接線路，如果該連接滿足大多數(shù) SFF（小型）光纖接頭的 TIA/ISO 標準。

競爭廠商的光纖適配器每次自動測試時僅能測量長度和兩種損耗的測量值，與之不同的是，DTX 是唯一能夠在每次自動測試時測量長度和四種損耗測量值（所有這些均在大約12秒內(nèi)完成）的光纖測試解決方案。有了 DTX 光纖模塊（DTX-SFM2，DTX-MFM2），光纖測試速度可較競爭廠商提高五倍。

Anyone who’s ever tested a multimode fiber optic link with light sources from different equipment?vendors will know that the loss measurement can vary by as much as 50 percent.若未進行適當控制，則多模光源會以不同的方式將光注入多模光纖。?即使采用同一制造商生產(chǎn)的光源，但在不同的發(fā)射條件下也會產(chǎn)生不同的鏈路損耗測量結(jié)果，最終出現(xiàn)不同的 — 并且通常令人困惑的 — 測試結(jié)果。

Overfilling tends to produce link-loss measurements that are inappropriately high and under filling tends to generate loss measurements that are optimistic in regards to the loss that will occur in the cabling once it is operational.?不同類型的光源會有不同的發(fā)射條件。例如：發(fā)光二極管 (LED) 會使多模光纖過多填充模式組，而激光又未使光纖填充足夠的模式組。

這些有缺陷的結(jié)果最終會影響布線基礎(chǔ)設(shè)施的性能，并且會造成數(shù)據(jù)中心和其它依靠光纖布線連接組件的環(huán)境方面的嚴重問題。

當考慮到網(wǎng)絡(luò)技術(shù)已經(jīng)進步并且損耗預(yù)算已經(jīng)減少時，這就有些雪上加霜了。為了滿足緊縮的損耗預(yù)算，必須最大限度地減少測試不確定性。因此，新型高性能寬帶業(yè)務(wù)應(yīng)用程序就成了現(xiàn)場測試儀器進行更準確和可重復(fù)進行多模衰減測量所需的動力。

行業(yè)專家認為有必要減小發(fā)射條件偏差，這在測試 1 GB 或更高多模光纖時顯得尤為必要。

那么，解決方案是什么呢？答案是利用一種稱為環(huán)形通量 (EF) 的標準，這是一種對以往方法所作的重大改進。環(huán)形通量 (EF) 是一種分析多模光源（例如： LED 或激光）啟動條件的方法。它是在光源將光照射入多模光纖時光纖芯徑內(nèi)的功率百分比，并且它是通過近場測量來自連接測試儀器的參考等級測試線端的光確定的。

EF 標準可以將損耗測量的偏差減少至 +/- 10%。與以前允許高達40% 偏差的標準相比，EF 標準在多模測試的準確性和可重復(fù)性方面有了大幅改善。因此，需要進行線纜認證以及批準布線保證的相關(guān)組織和人員已經(jīng)開始要求遵守這一新標準。

目前有可用于現(xiàn)場測試的環(huán)形通量 (EF) 解決方案。它們被稱作“發(fā)射控制器”，是與模式調(diào)節(jié)器一起安裝的特制測試級參考線。發(fā)射控制器的工作原理是在 EF 技術(shù)指標范圍內(nèi)限制測試線發(fā)射的模式組數(shù)量。這樣可確保根據(jù)標準，結(jié)果測量是精確且可重復(fù)的。

是否達到環(huán)形通量 (EF) 標準由測試儀器供應(yīng)商確認，它們使用專門的實驗室設(shè)備對多模光纖內(nèi)包含的不同模式之間的功率分布直接進行測量。

測量包括使用視頻和處理方法，分析測試線端的近場分布。圖像會轉(zhuǎn)變?yōu)閿?shù)據(jù)和圖解說明?？梢栽谶x定的 EF 限值范圍內(nèi)繪圖，以檢查其是否合規(guī)。

The Telecommunications Industry Association (TIA) and?International Electrotechnical Commission (IEC) standards bodies both have documents that describe the requirements for EF.

EF 在將多模鏈路損耗測量縮小至 10% 偏差目標方面是一個重大進步。它將改善諸如模態(tài)功率分布和耦合功率之類的舊方法。由于符合 EF 標準的測試儀器會為認證測試提供最可靠的結(jié)果，因此網(wǎng)絡(luò)工程師和設(shè)計師需要更新他們的測試技術(shù)指標，以要求使用符合 EF 標準的光源。

值得高興的是Fluke Networks ?今年已經(jīng)推出Fluke DTX–EFM2 環(huán)型通量多模光纖模塊 ?配合DTX-1800我們就可以實現(xiàn)測試環(huán)境了。

相關(guān)閱讀光纖環(huán)型通量 (EF) 測量白皮書：http://qqmmqq.cn/archives/ef.html