很多工程測試中可能用到的方法就一種，現(xiàn)在給大家介紹A，B，C測試方法。
根據(jù)ANSI/TIA/EIA-526-14A標(biāo)準(zhǔn)，測試多模光纜鏈路的損耗，有兩種測試方法：方法A和方法B。
我們根據(jù)不同的應(yīng)用，在測試時，使用不同的方法來設(shè)置參考值。
一般一條光纖鏈路由光纜、連接器和跳線組成。在測試中，一般認(rèn)為跳線造成的損耗可以忽略不計，因此主要測試的目標(biāo)為光纜以及鏈路中所包含的連接器所造成的損耗。
方法A所針對的光纜鏈路，其全部的衰減主要是由光纜和一個光配線架上的連接器所造成的，?這種測試方法，使用兩條用戶連接光纜和一個連接適配器連接至被測的光纜鏈路。兩條連接光纜和一個連接適配器作為參考值在測試中被排除。測試結(jié)果包括了被測光纜鏈路的損耗以及一個連接器的損耗。
這種光纖鏈路結(jié)構(gòu)，主干上比較多見。
方法B
在這種鏈路結(jié)構(gòu)中，兩個配架連接器的損耗是整個鏈路損耗的重要部分，因此比較適合室內(nèi)光纜的測試。它在設(shè)置參考值時使用一條連接光纖測試每條光纜鏈路。
在這種方法中，實際測試結(jié)果還包括了一根額外的連接光纖，但是其長度非常短，可以忽略不計。由于這種測試方法包括了光纜本身和兩端連接器，是比較精確的光纜鏈路測試。也是我們在測試中用的最多的一種測試方法。
隨著SFF連接器的流行，測試儀器所帶的測試跳線和鏈路連接器接口不匹配的現(xiàn)象越來越普遍，因此我們現(xiàn)在推薦一種改進(jìn)的方法B。它既能保持原來的精度（每次測量都包括光纜以及兩端的連接器），又避免了其在測試SFF連接器時的缺陷。它在參考設(shè)置時使用兩條連接光纖和一個連接器進(jìn)行，結(jié)構(gòu)類似于方法A，但在測試時包括了額外的帶連接器的一條短小的測試跳線。
改進(jìn)的方法B所得到的損耗測試結(jié)果和ANSI/TIA/EIA-526-14A定義的方法B的結(jié)果是一致的，測試的鏈路比設(shè)置參考值時多兩個額外的適配器，測試結(jié)果包括了光纜的損耗和鏈路兩端連接器的損耗，這個損耗值是網(wǎng)絡(luò)實際硬件應(yīng)用中所遇到的值。
這種方法可以使用不同類型的連接光纖連接測試儀和被測光纜鏈路，這對于現(xiàn)在越來越流行的微型連接器（SFF）的測試非常有用。使用這種方法，不需要在測試儀器端斷開連接光纜，從而減少了可能由于重新插入所導(dǎo)致的污染誤差或損壞測試儀器的光接口。
方法C
對于發(fā)射器和接收器直接通過光纜連接的鏈路結(jié)構(gòu)，我們需要使用如下連接方法，用3根用戶跳線和兩個連接器設(shè)置參考值，跳線和連接器造成的損耗被扣除掉，測試的就是光纜造成的直接損耗了。這種方法多用了一根跳線，但由于跳線的損耗一般都被忽略不計的，因此這根多余的跳線認(rèn)為不對測試結(jié)果造成影響。
測試時，需要注意以下幾點：
1．當(dāng)從設(shè)置參考值轉(zhuǎn)換至測試設(shè)置時，需要將測試儀一端的連接光纜斷開，這時要注意不要斷開輸出或光源一端。如果斷開該連接，原來設(shè)置的參考值就失去意義了，不重新進(jìn)行參考設(shè)置就會嚴(yán)重影響測試的結(jié)果。
2．在從測試儀測試（輸入）端斷開連接光纖時要非常小心，避免接頭處受到污染或測試儀器受到損壞。
3．測試儀器的連接器必須和被測光纜的連接器相同。
4．測試帶SFF連接器的光纖時應(yīng)使用改進(jìn)的方法B，并使用專門的從SFF到傳統(tǒng)接口的轉(zhuǎn)接跳線。
福祿克網(wǎng)絡(luò)【Fluke Networks】推薦產(chǎn)品：Fluke DTX-1800(dtx1800ms,dtx-1800-m,dtx-1800-s),DTX-1200，DTX-LT，DTX-CLT，Microscanner,MS2(MS2-100)，CableIQ(CIQ-100),MT-8200-60A,OPtiFiber(OTDR),OF-500-MS,Nettool(NTS2-PRO),SimpliFiber(FTK1450,FTK1000),Fiber QuickMap ,Fiber OneShot Pro ,LinkRunner PRO(lrpro-1000,lrpro-kit),ES2網(wǎng)絡(luò)通（ES2-LAN，ES2-PRO）
]]>